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[2004] Dae Hwan Kim, "Improvements in the reverse characteristics…

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작성자 관리자 작성일16-05-09 21:25 조회124회 댓글0건

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Dae Hwan Kim, Hoon Joo Na, Jae Kyeong Jeong, Myung Yoon Um, Ho Keun Song, Sang Young Jung, Da Il Eom and Hyeong Joon Kim,
"Improvements in the reverse characteristics of 4H-SiC Schottky Barrier Diode by hydrogen treatments",
Material Science Forum, Vols. 457-460, pp. 1001-1004, 2004

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