[2018] Suhyeong Lee, "Effects of post-deposition annealing on sputtered SiO2/4H-SiC metal-oxide-semiconductor" > International Journal

본문 바로가기
사이트 내 전체검색


회원로그인

International Journal

[2018] Suhyeong Lee, "Effects of post-deposition annealing on spu…

페이지 정보

작성자 관리자 작성일17-11-15 08:45 조회9회 댓글0건

첨부파일

본문

Suhyeong Lee, Young Seok Kim, Hong Jeon Kang, Hyunwoo Kim, Min-Woo Ha, Hyeong Joon Kim

"Effects of post-deposition annealing on sputtered SiO2/4H-SiC metal-oxide-semiconductor"

Solid State Electronics, 139, 115-120 (2018)

댓글목록

등록된 댓글이 없습니다.


접속자집계

오늘
27
어제
45
최대
164
전체
36,889

(08826) 서울시 관악구 관악로 1 서울대학교 30동 521~526호 박막재료연구실
(Tel) 02-880-7168, 02-880-7378 (FAX) 02-874-7626
Copyright © Thin Film Research Lab. All rights reserved.
상단으로

모바일 버전으로 보기