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[2014] Hajin Lim, "Reduction in the Interfacial Trap Density of A…

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작성자 관리자 작성일16-05-09 12:51 조회414회 댓글0건

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Hajin Lim, Seongkyung Kim, Joon Rae Kim, Sungin Suh, Ji Hun Song, Nae-In Lee, Jae Kyeong Jeong, and Hyeong Joon Kim

"Reduction in the Interfacial Trap Density of Al2O3/GaAs Gate Stack by Adopting High Pressure Oxidation"

ECS Journal of Solid State Science and Technology, 3 (12), Q232-Q235 (2014)

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