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[2016] Hong-Jeon Kang,"Minority Carrier Traps in n-type 4H-SiC Me…

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작성자 관리자 작성일17-09-05 10:15 조회7회 댓글0건

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Hong-Jeon Kang, Suhyeong Lee, Hyunwoo Kim, Sungmin Kim, Seongkyung Kim, Wook Bahng, Jeong Hyun Moon, Dohyun Lee and Hyeong Joon Kim

"Minority Carrier Traps in n-type 4H-SiC Measured by Schottky Diode-based Deep Level Transient Spectroscopy"

11th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials,(ECSCRM 2016), 25 Sep - 29 Sep, 2016, Porto Carras Grand Resort, Halkidiki, Greece

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