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International Conference

[2015] Sungmin Kim, "Reliability Analysis of Zinc Tin Oxide Thin …

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작성자 관리자 작성일16-05-23 15:56 조회211회 댓글0건

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Sungmin Kim, Hyeong Joon Kim

"Reliability Analysis of Zinc Tin Oxide Thin Film Transistor under Mechanical Stress and NBIS (Negative Biased Illuminated Stress) Condition"

AVS 62nd International Symposium & Exhibition, 18-23 Oct, 2015, San Jose, California

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