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[2013] Seungha Oh, "Analysis for the hole migration behavior in …

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작성자 관리자 작성일16-05-10 02:33 조회252회 댓글0건

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Seungha Oh, Bong Seob Yang, Yoon Jang Kim, Sang Jin Han, Hong Woo Lee, Hyuk Jin Kim, and Hyeong Joon Kim,
 "Analysis for the hole migration behavior in InZnO thin film transistors using a stretched exponential fitting method",
2013 MRS fall meeting program & Exhibit, 1-6 Dec, 2013, Boston, Massachusetts, USA

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