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International Conference

[2013] Yoon Jang Kim, "Photo-bias Instability of Solution Process…

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작성자 관리자 작성일16-05-10 02:32 조회194회 댓글0건

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Yoon Jang Kim, Bong Seob Yang, Seungha Oh, Hyuk Jin Kim, Hyeong Joon Kim
"Photo-bias Instability of Solution Processed Zinc Tin Oxide Thin Film Transistors with Varying Zn:Sn Composition Ratio"
2013 International Conference on Small Science (ICSS2013), 15-18 Dec, 2013, The Red Rock Casino Resort, Las Vegas Nevada, USA

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